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本文围绕SEM能否定量测量铜晶粒大小展开,指出普通SEM形貌像在晶界清晰和制样良好时可做半定量或图像法定量,但受腐蚀、氧化、视场代表性和二维截面限制;SEM-EBSD通过取向图和晶界重构可实现更可靠的定量统计。文章还给出截线法、面积法、样品制备和报告要点。