暂无介绍
SEM能谱通常指EDS/EDX,其能量分辨率以Mn Kα峰半高宽衡量,现代SDD常见约123 eV至133 eV,优质机型可达121 eV至125 eV,传统Si(Li)约130 eV至150 eV。数值越小分辨能力越强。实际值受探测器类型、计数率、成形时间、校准和维护影响,选型时应结合测试条件与分析需求判断。